SSR-E2太陽光譜反射率儀美國

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產品名稱: SSR-E2太陽光譜反射率儀美國

產品型號: SSR-E2

產品展商: 其它

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簡單介紹

產品簡介：太陽光譜反射率儀提供準確的材料漫反射和鏡麵反射測量，材料樣品厚度可至6.4mm，太陽反射比和吸收比到0.001，重複性達到0.003。采用鎢絲提供漫反射光源，測量4個濾光探測器、20度近法線入射角的樣品輻射反射。探測器主要覆蓋紫外、藍光、紅光和IR光譜範圍。2個額外的探測器用來重采樣低色溫情況下紅光和IR光源。漫反射和鏡麵反射標準體隨機提供，標準體通過美國National Bureau of Standards Materials 標定，儀器經過標準體定標後即可開始測量。

SSR-E2太陽光譜反射率儀美國 的詳細介紹

產品簡介：
太陽光譜反射率儀提供準確的材料漫反射和鏡麵反射測量，材料樣品厚度可至6.4mm，太陽反射比和吸收比到0.001，重複性達到0.003。
采用鎢絲提供漫反射光源，測量4個濾光探測器、20度近法線入射角的樣品輻射反射。探測器主要覆蓋紫外、藍光、紅光和IR光譜範圍。2個額外的探測器用來重采樣低色溫情況下紅光和IR光源。漫反射和鏡麵反射標準體隨機提供，標準體通過美國National Bureau of Standards Materials 標定，儀器經過標準體定標後即可開始測量。
默認操作模式下，儀器每完成一個測量循環的時間為8秒鍾，鎢燈亮6秒的同時並記錄檢測器偏移值，燈亮兩秒鍾後6個探測器進行反射率測量並存儲，計算太陽反射比並顯示在LCD上，然後關閉光源。通過鍵盤可切換6個探測器的反射比或吸收比顯示。
執行標準：美國ASTM C1549-04標準和ASTM E1980-01標準。
參數：
定製測量頭：標配測量頭用來測量平麵樣品材料，可定製測量頭用來測量曲麵材料樣品，如13mm直徑圓柱麵。
手   柄：便於測量使用
12V便攜供電套裝：可連續測量5個小時的12V電池、充電器、運輸箱
分辨率：LCD顯示反射比、吸收比和透射比至0.001
重複性：±0.003
準確性：±0.002
漂    移：5分鍾預熱，漂移小於每小時±1%或者讀數+0.003
溫    度：電子組件高操作溫度60℃，測量頭高50℃
濕    度：80%
標準體：提供漫反射和鏡麵反射標準體，經過NBS定標
測量端口：1英寸直徑，樣品直徑1.1英寸，
光    源：插拔式可換鎢絲燈
供    電：100-240VAC**電源
線    纜：標配長度1.5m，可選長度10m
重    量：測量頭0.9kg，電子模塊1.8kg，透射率附件4.5kg
透射率測量附件：SSR-T透射率測量附件可以和SSR-R反射測量頭兼容進行樣品太陽輻射透射率測量，透射率測量角度從法線方向至60°可調，采用漫反射光源照明並測量。
應用領域：
航空領域：熱控製塗層
控製領域：鍍膜、塗層
太陽能領域：吸收塗層、反射塗層、鏡麵和反射鏡
訂貨指南：
太陽光譜反射率儀：包括電子模塊，反射率測量頭，2個白瓷體，1個鏡麵標準體，黑體，6’信號電纜，鹵素光源，光譜性能標準，**電源，電源線和運輸箱。
太陽光譜反射率儀：包括電子模塊，具有手柄的反射率測量頭，可實現5個小時連續測量的12v電池和充電器，2個白瓷體，1個鏡麵標準體，黑體，6’信號電纜，鹵素光源，光譜性能標準。**電源，電源線和運輸箱。
可選項：

透射率測量附件。