紫外輻照計

該儀器適用於光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
產品規格：
* 波長範圍及峰值波長：
探頭：（光譜響應曲線見圖）
     λ：(320～400)nm；λP＝365nm
探頭：（光譜響應曲線見圖）
     λ：(375～475)nm；λP＝420nm
輻照度測量範圍：(0.1～199.9×103)μW/cm2
紫外帶外區雜光：小於0.02％
準確度：±10％
角度響應特性：，，二，光照度計標準
響應時間：1秒
環境溫度：(0～40)℃
環境濕度：＜85％RH
尺    寸：180mm×80mm×36mm；
重    量：0.2kg
電    源：9V積層電池一隻