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可控矽測試儀介紹

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    資訊動態

    可控矽測試儀介紹
    可控矽測試儀（又名：，係列塑封可控矽、可控矽光耦測試儀）是，研究設計成功的一種**的數字顯示式多功能半自動可控矽和可控矽光電耦合器參數測試裝置。
    1.它可以測量小至TO-92封裝大至TO-3P封裝的%種電流等，的塑封單、雙向可控矽（晶閘管）。
    2.，設計了0-1O00uA的觸發電流量程，可以直接測量MCR100-6等微安，觸發電流的可控矽。
    3.可以測量DIP-6.DIP-4封裝的過零和非過零檢測可控矽輸出的光電耦合器和DIP-6封裝的單向可控矽輸出的光電耦合器。
    4.可以測量200A以下的螺銓型單、雙向可控矽和可控矽組合模塊。
    5.測試觸發電流和觸發電壓時%人工調節，可控矽插入測試座後儀器會自動的調節至觸發值，並穩定的顯示觸發電流IGT/觸發電壓VGT。
    6.測試可控矽耐壓參數時隻需，性調節好，高輸出電壓值，以後每測一個管子隻要按下高壓按鈕即可顯示該可控矽的耐壓值。
    該儀器主要用於可控矽使用廠家對可控矽元件的，檢驗、參數的配對、可控矽設備的維修之用。儀器還可以%的應用於對多種電子元器件的高低壓耐壓的測試。儀器外型美觀、性能穩定、測量準確、使用，方便。
    ，性能
    可控矽觸發電流IGT測量範圍:6-1000uA,0-10.00mA,0-100.0mA 精度:≤3%
    可控矽觸發電壓VGT測量範圍:0-5V精度:≤5%
    可控矽光耦輸入端LED觸發電流IFT測量範圍:0-10.00mA, 0-100.0mA 精度:≤3%
    可控矽光耦輸入端LED觸發電壓VFT測量範圍:0-3V 精度:≤5%
    可控矽和可控矽光耦輸出端，正反向不重複峰值電壓VDSM/VRSM測量範圍:0-2KV精度:≤3%
    可控矽和可控矽光耦輸出端，正反向重複峰值電壓VDRM/VRRM測量範圍:0-1.6KV精度:≤5%
    測試功能
    1.，係列單雙向塑封可控矽觸發電流IGT、觸發電壓VGT的測試，正反向不重複峰值電壓VDSM/VRSM的測試，正反向重複峰值電壓VDRM/VRRM的測試。
    2.DIP-6、DIP-4封裝的過零和非過零檢測可控矽輸出的光電耦合器和DIP-6封裝的單向可控矽輸出的光電耦合器輸入LED端IFT/VFT的測試，輸出端可控矽正反向不重複峰值電壓VDSM/VRSM的測試，正反向重複峰值電壓VDRM/VRRM的測試。
    3.電流在200A以內，VDSM/VRSM在2KV以內，觸發電流在120mA以內的螺銓型單、雙向可控矽和可控矽組合模塊的觸發電壓IGT、觸發電流VGT的測試，正反向不重複峰值電壓VDSM/VRSM的測試，正反向重複峰值電壓VDRM/VRRM的測試。
    4.2KV以內的%二，管、三，管、達林頓管、整流橋、MOS場效應管、IGBT及%種模塊的耐壓測試。
    5.2KV以內的壓敏電阻、穩壓管、雙向觸發二，管等電壓值的測試
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