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四探針導體電阻率測定儀簡介
由於金屬塊體材料的電阻和金屬薄膜的電阻很低，他們的測量采用四端接線法。為了滿足實際的需要，本儀器采用四探針法原理來實現對不同金屬、半導體、導電高分子材料的電阻及電阻率的測量。可用於高校物理教育實驗，對導體/半導體/金屬薄膜材料的電阻 及電阻率的測試及研究。
本產品的電阻測量範圍可達10-5—105Ω。
四探針導體半導體電阻率測量儀是由精密電壓電流源以及四探針樣品平台二台儀器構成。
精密直流電壓電流源 （詳見該產品使用說明書）
直流電流源
電流輸出範圍：1nA~200mA，輸出電壓不小於5V；
量程：分五檔，20μA、200μA、2mA、20mA、200mA；
電流輸出的基本誤差：0.03%RD±0.02%FS（20±2℃）；其中50~200mA為0.05%RD±0.02%FS。
直流電壓源
電壓輸出範圍：5μV~50V，負載電流不小於10mA（20mV以上）；
量程：分五檔，20mV、200mV、2V、20V、50V，每檔均有粗調和細調；
電壓輸出的基本誤差：0.05%RD±0.02%FS（20±2℃）。
數字電壓表（4?LED）利用電壓源部分“取樣”端可對被測電壓進行測試
測量量程   20mV，200mV，2V，20V，200V
，高分辨力  可達1μV
基本誤差為 0.03%RD±0.02%FS   （20±2oC）
四探針樣品平台（詳見該產品使用說明書）
為被測薄膜樣品，利用四探針測量方式測量導體/半導體樣品的電阻和電阻率，提供了方便。
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